GB/T 5594.4-2015
Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes y dispositivos electrónicos. Parte 4: Método de prueba para la permitividad y el valor tangente del ángulo de pérdida dieléctrica. (Versión en inglés)
- Estándar No.
- GB/T 5594.4-2015
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 2015
- Organización
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Ultima versión
- GB/T 5594.4-2015
- Reemplazar
- GB/T 5594.4-1985
- Alcance
- Esta parte de GB/T 5594 especifica los métodos de prueba para la constante dieléctrica y la tangente de pérdida dieléctrica de materiales cerámicos electrónicos utilizados en piezas de dispositivos, dispositivos electrónicos de vacío, sustratos de resistencias, semiconductores y sustratos de circuitos integrados. Esta parte se aplica a la constante dieléctrica y la tangente de pérdida dieléctrica de materiales cerámicos electrónicos utilizados en piezas de dispositivos, dispositivos electrónicos de vacío, sustratos de resistencia, semiconductores y sustratos de circuitos integrados a una frecuencia de 1 MHz y una temperatura que oscila entre temperatura ambiente y 500 °C. prueba.
GB/T 5594.4-2015 Documento de referencia
- GB/T 5593-2015 Estructura de materiales cerámicos utilizados en componentes y dispositivos electrónicos.
- GB/T 9530-1988 Términos para cerámica electrónica.
GB/T 5594.4-2015 Historia
- 2015 GB/T 5594.4-2015 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes y dispositivos electrónicos. Parte 4: Método de prueba para la permitividad y el valor tangente del ángulo de pérdida dieléctrica.
- 1985 GB/T 5594.4-1985 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes electrónicos. Método de prueba para el valor tangente del ángulo de pérdida dieléctrica.
GB/T 5594.4-2015 - Все части
GB/T 5594.1-1985 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes electrónicos. Método de prueba de estanqueidad al gas.
GB/T 5594.2-1985 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes electrónicos: método de prueba para el módulo elástico de Young y la relación de Poisson.
GB/T 5594.3-2015
GB/T 5594.4-2015 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes y dispositivos electrónicos. Parte 4: Método de prueba para la permitividad y el valor tangente del ángulo de pérdida dieléctrica.
GB/T 5594.5-1985 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes electrónicos. Método de prueba para la resistividad del volumen.
GB/T 5594.6-2015 Métodos de prueba para las propiedades de las estructuras cerámicas utilizadas en componentes y dispositivos electrónicos. Parte 6: Método de prueba para la durabilidad química.
GB/T 5594.7-2015 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes y dispositivos electrónicos. Parte 7: Método de prueba para la permeabilidad a los líquidos.
GB/T 5594.8-2015 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes y dispositivos electrónicos. Parte 8: Método de prueba para la microestructura.