GB/T 5594.4-1985 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes electrónicos. Método de prueba para el valor tangente del ángulo de pérdida dieléctrica. (Versión en inglés)
Esta norma es aplicable a la determinación del valor tangente de pérdida dieléctrica de materiales cerámicos estructurales para componentes electrónicos a una frecuencia de 1 MHz y una temperatura que oscila entre la temperatura ambiente y los 500 °C.
GB/T 5594.4-1985 Historia
2015GB/T 5594.4-2015 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes y dispositivos electrónicos. Parte 4: Método de prueba para la permitividad y el valor tangente del ángulo de pérdida dieléctrica.
1985GB/T 5594.4-1985 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes electrónicos. Método de prueba para el valor tangente del ángulo de pérdida dieléctrica.