YS/T 14-2015
Método para medir el espesor de la capa heteroepitaxial y la capa policristalina de silicio. (Versión en inglés)

Estándar No.
YS/T 14-2015
Idiomas
Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación
2015
Organización
Professional Standard - Non-ferrous Metal
Ultima versión
YS/T 14-2015
Reemplazar
YS/T 14-1991

YS/T 14-2015 Historia

  • 2015 YS/T 14-2015 Método para medir el espesor de la capa heteroepitaxial y la capa policristalina de silicio.
  • 1991 YS/T 14-1991 Método para medir el espesor de la capa heteroepitaxial y la capa policristalina de silicio.



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