YS/T 14-1991
Método para medir el espesor de la capa heteroepitaxial y la capa policristalina de silicio. (Versión en inglés)

Estándar No.

YS/T 14-1991

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

1991

Organización

Professional Standard - Non-ferrous Metal

Estado

 2015-10

Remplazado por

YS/T 14-2015

Ultima versión

YS/T 14-2015

YS/T 14-1991 Historia

• 2015 YS/T 14-2015 Método para medir el espesor de la capa heteroepitaxial y la capa policristalina de silicio.
• 1991 YS/T 14-1991 Método para medir el espesor de la capa heteroepitaxial y la capa policristalina de silicio.