KS C IEC 60749-31:2006 Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 31: Inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducidos internamente)
Esta norma es aplicable a dispositivos semiconductores (dispositivos discretos y circuitos integrados) El propósito de esta prueba es
KS C IEC 60749-31:2006 Historia
0000 KS C IEC 60749-31-2006(2021)
0000 KS C IEC 60749-31-2006(2016)
2006KS C IEC 60749-31:2006 Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 31: Inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducidos internamente)