KS C IEC 60749-31-2006(2021) Dispositivos semiconductores -Métodos de prueba mecánicos y climáticos -Parte 31: Inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducidos internamente)
2006KS C IEC 60749-31:2006 Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 31: Inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducidos internamente)