KS C IEC 60749-24:2006
Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 24: Resistencia acelerada a la humedad-HAST imparcial

Estándar No.

KS C IEC 60749-24:2006

Fecha de publicación

2006

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C IEC 60749-24-2006(2016)

Ultima versión

KS C IEC 60749-24-2006(2021)

Alcance

Esta norma tiene como objetivo evaluar la confiabilidad de dispositivos semiconductores empaquetados no sellados en un ambiente húmedo.

KS C IEC 60749-24:2006 Historia

• 0000 KS C IEC 60749-24-2006(2021)
• 0000 KS C IEC 60749-24-2006(2016)
• 2006 KS C IEC 60749-24:2006 Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 24: Resistencia acelerada a la humedad-HAST imparcial