KS C IEC 60749-24-2006(2016) Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 24: Resistencia a la humedad acelerada-HAST imparcial
2006KS C IEC 60749-24:2006 Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 24: Resistencia acelerada a la humedad-HAST imparcial