KS C IEC 60749-14:2006
Dispositivos semiconductores -Métodos de prueba mecánicos y climáticos -Parte 14: Robustez de las terminaciones (integridad de los cables)

Estándar No.
KS C IEC 60749-14:2006
Fecha de publicación
2006
Organización
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Estado
Remplazado por
KS C IEC 60749-14-2006(2016)
Ultima versión
KS C IEC 60749-14-2006(2021)
Alcance
Esta especificación especifica la interfaz cable/paquete y los cables adjuntos al volver a ensamblar placas defectuosas.

KS C IEC 60749-14:2006 Historia

  • 0000 KS C IEC 60749-14-2006(2021)
  • 0000 KS C IEC 60749-14-2006(2016)
  • 2006 KS C IEC 60749-14:2006 Dispositivos semiconductores -Métodos de prueba mecánicos y climáticos -Parte 14: Robustez de las terminaciones (integridad de los cables)



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