KS C IEC 60749-14-2006(2016) Dispositivos semiconductores -Métodos de prueba mecánicos y climáticos -Parte 14: Robustez de las terminaciones (integridad de los cables)
2006KS C IEC 60749-14:2006 Dispositivos semiconductores -Métodos de prueba mecánicos y climáticos -Parte 14: Robustez de las terminaciones (integridad de los cables)