KS C IEC 60749-1:2006
Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 1:General

Estándar No.

KS C IEC 60749-1:2006

Fecha de publicación

2006

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C IEC 60749-1-2006(2016)

Ultima versión

KS C IEC 60749-1-2006(2021)

Alcance

Esta norma es aplicable a dispositivos semiconductores (dispositivos discretos y circuitos integrados) y sigue la serie IEC 60749.

KS C IEC 60749-1:2006 Historia

• 0000 KS C IEC 60749-1-2006(2021)
• 0000 KS C IEC 60749-1-2006(2016)
• 2006 KS C IEC 60749-1:2006 Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 1:General