KS C IEC 60749-1-2006(2016)
Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 1:General
Inicio
KS C IEC 60749-1-2006(2016)
Estándar No.
KS C IEC 60749-1-2006(2016)
Fecha de publicación
2006
Organización
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Estado
Remplazado por
KS C IEC 60749-1-2006(2021)
Ultima versión
KS C IEC 60749-1-2006(2021)
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2006
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Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 1:General
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