IEC 60749-6 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura.*, 2017-03-01 Actualizar
IEC 60749-8 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 8: Sellado.
IEC TR 62572-2 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Estándares de confiabilidad. Parte 2: Degradación del módulo láser.
BS EN 62572-3:2014 Historia
2016BS EN 62572-3:2016 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Estándares de confiabilidad. Módulos láser utilizados para telecomunicaciones.
2014BS EN 62572-3:2014 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Estándares de confiabilidad. Módulos láser utilizados para telecomunicaciones.
2012BS EN 62572-3:2012 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Estándares de confiabilidad. Módulos láser utilizados para telecomunicaciones.