KS C 2150-2008
Método de medición de la constante dieléctrica y la pérdida dieléctrica de una película delgada dieléctrica en los rangos de alta frecuencia (500 MHz ~ 10 GHz)

Estándar No.

KS C 2150-2008

Fecha de publicación

2008

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C 2150-2008(2018)

Ultima versión

KS C 2150-2008(2023)

Alcance

Esta norma especifica la constante dieléctrica y la pérdida dieléctrica de películas delgadas dieléctricas en la banda de alta frecuencia (500 MHz ~ 10 GHz).

KS C 2150-2008 Historia

• 0000 KS C 2150-2008(2023)
• 0000 KS C 2150-2008(2018)
• 2008 KS C 2150-2008 Método de medición de la constante dieléctrica y la pérdida dieléctrica de una película delgada dieléctrica en los rangos de alta frecuencia (500 MHz ~ 10 GHz)