KS C 2150-2008(2018)
Método de medición de la constante dieléctrica y la pérdida dieléctrica de una película delgada dieléctrica en los rangos de alta frecuencia (500 MHz ~ 10 GHz)

Estándar No.

KS C 2150-2008(2018)

Fecha de publicación

2008

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C 2150-2008(2023)

Ultima versión

KS C 2150-2008(2023)

KS C 2150-2008(2018) Historia

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