ISO 17470:2014 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda normas y especificaciones

Alcance: Esta norma internacional brinda orientación para la identificación de elementos y la investigación de la presencia de elementos específicos dentro de un volumen específico (en una escala de μm3) contenido en una muestra, mediante el análisis de espectros de rayos X obtenidos utilizando espectrómetros de rayos X dispersivos de longitud de onda en una microanalizador de sonda electrónica o en un microscopio electrónico de barrido.

ISO 17470:2014 Documento de referencia

ISO 14594:2003 Analyse par microfaisceaux - Analyse par microsonde électronique (Microsonde de Castaing) - Líneas directrices para la determinación de parámetros experimentales para la espectrometría de dispersión de longitud de onda

2014 ISO 17470:2014 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
2004 ISO 17470:2004 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda