ISO 17470:2004
Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda

Estándar No.

ISO 17470:2004

Fecha de publicación

2004

Organización

International Organization for Standardization (ISO)

Estado

Remplazado por

ISO 17470:2014

Ultima versión

ISO 17470:2014

Alcance

Este estándar es un método estándar para identificar elementos y confirmar la presencia de elementos específicos mediante el uso de una sonda puntual o un espectrómetro en un microscopio electrónico de barrido para obtener el espectro de rayos X dentro de un volumen específico de la muestra (escala μm).

ISO 17470:2004 Historia

• 2014 ISO 17470:2014 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
• 2004 ISO 17470:2004 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda