KS C IEC 60749-16:2006 Dispositivos semiconductores -Métodos de prueba mecánicos y climáticos -Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND)
El propósito de esta especificación es evitar la caída de partículas como virutas de cerámica, trozos de alambre de unión o bolas de soldadura dentro de los elementos de la cavidad.
KS C IEC 60749-16:2006 Historia
0000 KS C IEC 60749-16-2006(2021)
0000 KS C IEC 60749-16-2006(2016)
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