KS C IEC 60749-16-2006(2016)
Dispositivos semiconductores -Métodos de prueba mecánicos y climáticos -Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND)

Estándar No.
KS C IEC 60749-16-2006(2016)
Fecha de publicación
2006
Organización
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Estado
Remplazado por
KS C IEC 60749-16-2006(2021)
Ultima versión
KS C IEC 60749-16-2006(2021)

KS C IEC 60749-16-2006(2016) Historia

  • 0000 KS C IEC 60749-16-2006(2021)
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  • 2006 KS C IEC 60749-16:2006 Dispositivos semiconductores -Métodos de prueba mecánicos y climáticos -Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND)



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