KS C IEC 60749-11:2002
Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 11:Cambio rápido de temperatura－Método de dos baños fluidos

Estándar No.

KS C IEC 60749-11:2002

Fecha de publicación

2002

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C IEC 60749-11:2020

Ultima versión

KS C IEC 60749-11:2020

Alcance

Esta prueba determina la resistencia del dispositivo a una exposición repentina a umbrales de temperatura o cambios rápidos.

KS C IEC 60749-11:2002 Historia

• 2020 KS C IEC 60749-11:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura. Método de dos baños de fluido.
• 2002 KS C IEC 60749-11:2002 Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 11:Cambio rápido de temperatura－Método de dos baños fluidos