KS C IEC 60749-11:2020
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura. Método de dos baños de fluido.

Estándar No.

KS C IEC 60749-11:2020

Fecha de publicación

2020

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Ultima versión

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KS C IEC 60749-11:2020 Historia

• 2020 KS C IEC 60749-11:2020 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura. Método de dos baños de fluido.
• 2002 KS C IEC 60749-11:2002 Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 11:Cambio rápido de temperatura－Método de dos baños fluidos