KS D 0257-2002
Medición de la vida útil de la minoría - portador en un monocristal de silicio mediante el método de desintegración fotoconductora

Estándar No.

KS D 0257-2002

Fecha de publicación

2002

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS D 0257-2002(2017)

Ultima versión

KS D 0257-2002(2022)

Reemplazar

KS D 0257-1999

Alcance

Esta norma especifica la vida útil de recombinación masiva de portadores minoritarios en un monocristal de silicio (en lo sucesivo denominada vida útil masiva o tB).

KS D 0257-2002 Historia

• 0000 KS D 0257-2002(2022)
• 0000 KS D 0257-2002(2017)
• 2002 KS D 0257-2002 Medición de la vida útil de la minoría - portador en un monocristal de silicio mediante el método de desintegración fotoconductora
• 0000 KS D 0257-1999