KS D 0257-2002(2022)
Medición de la vida útil de la minoría - portador en un monocristal de silicio mediante el método de desintegración fotoconductora

Estándar No.

KS D 0257-2002(2022)

Fecha de publicación

2002

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Ultima versión

KS D 0257-2002(2022)

KS D 0257-2002(2022) Historia

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• 0000 KS D 0257-2002(2017)
• 2002 KS D 0257-2002 Medición de la vida útil de la minoría - portador en un monocristal de silicio mediante el método de desintegración fotoconductora
• 0000 KS D 0257-1999