GB/T 14620-2013
Sustratos cerámicos de alúmina para circuitos integrados de película delgada. (Versión en inglés)

Estándar No.

GB/T 14620-2013

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2013

Organización

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Ultima versión

GB/T 14620-2013

Reemplazar

GB/T 14620-1993

Alcance

Esta norma especifica los requisitos, métodos de prueba, reglas de inspección, marcado, embalaje, transporte y almacenamiento de sustratos cerámicos de alúmina para circuitos integrados de película delgada. Esta norma se aplica a la producción y adquisición de sustratos cerámicos de alúmina para circuitos integrados de película delgada (en lo sucesivo, "sustratos"), y los sustratos cerámicos de alúmina para componentes de chips que utilizan tecnología de película delgada también se pueden utilizar como referencia.

GB/T 14620-2013 Documento de referencia

• GB/T 14619-2013 Sustratos cerámicos de alúmina para circuitos integrados de película gruesa.
• GB/T 16534-2009 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba de dureza de cerámica monolítica a temperatura ambiente.
• GB/T 1958 Especificaciones geométricas del producto (GPS)—Tolerancia geométrica—Verificación*， 2017-11-01 Actualizar
• GB/T 2413 Materiales cerámicos piezoeléctricos. Métodos de medición para la determinación del volumen y la densidad.
• GB/T 2828.1 Procedimiento de inspección por muestreo de conteo, parte 1: Plan de muestreo de inspección lote por lote recuperado por el límite de calidad de aceptación (AQL)
• GB/T 2829 Procedimientos y tablas de muestreo para inspección periódica por atributos (Aplicar a inspección de estabilidad del proceso)
• GB/T 5593 Estructura de materiales cerámicos utilizados en componentes y dispositivos electrónicos.*， 2015-05-15 Actualizar
• GB/T 5594.3 *， 2015-05-15 Actualizar
• GB/T 5594.4 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes y dispositivos electrónicos. Parte 4: Método de prueba para la permitividad y el valor tangente del ángulo de pérdida dieléctrica.*， 2015-05-15 Actualizar
• GB/T 5594.5 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes electrónicos. Método de prueba para la resistividad del volumen.
• GB/T 5594.7 Métodos de prueba para las propiedades de la estructura cerámica utilizada en componentes y dispositivos electrónicos. Parte 7: Método de prueba para la permeabilidad a los líquidos.*， 2015-05-15 Actualizar
• GB/T 5598 *， 2015-05-15 Actualizar
• GB/T 6062 Especificaciones geométricas del producto (GPS). Textura de la superficie: método de perfil. Característica nominal de los instrumentos de contacto (stylus)
• GB/T 6900 Análisis químico de refractarios de sílice de alúmina.*， 2016-08-29 Actualizar
• GB/T 9531.1 Especificaciones generales para piezas cerámicas electrónicas.
• GJB 1201.1-1991 Método de prueba para la difusividad térmica de materiales sólidos a alta temperatura Método de pulso láser
• GJB 548B-2005 Métodos y procedimientos de prueba para dispositivos microelectrónicos.

GB/T 14620-2013 Historia

• 2013 GB/T 14620-2013 Sustratos cerámicos de alúmina para circuitos integrados de película delgada.
• 1993 GB/T 14620-1993 Sustratos cerámicos de alúmina para circuitos integrados de película delgada.