"Esta parte de IEC 60444 se aplica a las mediciones de dependencia del nivel de excitación (DLD) de unidades de cristal de cuarzo. Se describen dos métodos de prueba (A y C) y un método referencial (B). ""Método A""@ basado en el La red según IEC 60444-1@ se puede utilizar en todo el rango de frecuencia cubierto por esta parte de IEC 60444. ""Método de referencia B""@ basado en la red o método de reflexión según IEC 60444-1@ IEC 60444-5 o IEC 60444-8 se pueden utilizar en todo el rango de frecuencia cubierto por esta parte de IEC 60444. El ""Método C""@ un método de oscilador@ es adecuado para mediciones de unidades de cristal en modo fundamental en cantidades mayores con valores fijos. condiciones."
IEC 60444-6:2013 Historia
0000 IEC 60444-6:2021 RLV
2013IEC 60444-6:2013 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 6: Medición de la dependencia del nivel de excitación (DLD)
1995IEC 60444-6:1995 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 6: Medición de la dependencia del nivel de excitación (DLD)