IEC 60444-6:1995
Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 6: Medición de la dependencia del nivel de excitación (DLD)

Estándar No.

IEC 60444-6:1995

Fecha de publicación

1995

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

 2013-07

Remplazado por

IEC 60444-6:2013

Ultima versión

IEC 60444-6:2021 RLV

Alcance

Esta parte de IEC 444 se aplica a las mediciones de dependencia del nivel de excitación (DLD) de unidades de cristal de cuarzo. Se describen dos métodos de prueba. El método A, basado en el método de red π según IEC 444-1, se puede utilizar en todo el rango de frecuencia cubierto por esta parte de IEC 444. El método B, un método de oscilador, es adecuado para mediciones de unidades cristalinas en modo fundamental en cantidades mayores con condiciones fijas.

IEC 60444-6:1995 Historia

• 0000 IEC 60444-6:2021 RLV
• 2013 IEC 60444-6:2013 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 6: Medición de la dependencia del nivel de excitación (DLD)
• 1995 IEC 60444-6:1995 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 6: Medición de la dependencia del nivel de excitación (DLD)