GB/T 18910.1-2012
Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 1: Especificación genérica. (Versión en inglés)

Estándar No.

GB/T 18910.1-2012

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2012

Organización

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Ultima versión

GB/T 18910.1-2012

Reemplazar

GB/T 18910.1-2002

Alcance

Esta parte de GB/T 18910 es la especificación general para dispositivos de visualización de cristal líquido. Especifica los procedimientos generales para la evaluación de la calidad del sistema IECQ y proporciona los requisitos generales para los métodos de prueba de características electroópticas y proporciona los métodos de prueba climáticos, mecánicos y de durabilidad. Esta sección se aplica a los dispositivos de visualización de cristal líquido, incluidos pantallas de visualización de cristal líquido y módulos de visualización de cristal líquido,

GB/T 18910.1-2012 Documento de referencia

• GB/T 17573-1998 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos y circuitos integrados. Parte 1: Generalidades
• GB/T 18910.11-2012 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 1-1: Terminología y símbolos.
• GB/T 18910.5-2008 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido. Parte 5: Métodos de prueba ambientales, de resistencia y mecánicos.
• GB/T 18910.61-2012 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 6-1: Métodos de medición para dispositivos de visualización de cristal líquido. Parámetro fotoeléctrico
• GB/T 4589.1-2006 Dispositivos semiconductores. Parte 10: Especificación genérica para dispositivos discretos y circuitos integrados
• IEC 60068 Pruebas ambientales; parte 5: guía para la redacción de métodos de prueba; Términos y definiciones
• IEC 60410:1973 Planes de muestreo y procedimientos para inspección por atributos
• IEC 60747 Dispositivos semiconductores - Parte 9: Dispositivos discretos - Transistores bipolares de puerta aislada (IGBT)*， 2019-11-13 Actualizar
• IEC 60748 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados - Parte 5: Circuitos integrados semipersonalizados
• IEC 60749:1996 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos.
• ISO 1101:1983 Dibujos tecnicos; Tolerancia geométrica; Tolerancia de forma, orientación, ubicación y agotamiento; Generalidades, definiciones, símbolos, indicaciones en los dibujos.
• ISO 2859 Procedimientos de muestreo y tablas para inspección por atributos — Anexo 1
• QC 001002-1986 Reglamento interno del sistema de evaluación de calidad de componentes electrónicos (IECQ) de IEC

GB/T 18910.1-2012 Historia

• 2012 GB/T 18910.1-2012 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 1: Especificación genérica.
• 2002 GB/T 18910.1-2002 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido Parte 1: Especificaciones genéricas

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