GB/T 4937.3-2012
Dispositivos semiconductores. Métodos de pruebas mecánicas y climáticas. Parte 3: Examen visual externo. (Versión en inglés)

Estándar No.: GB/T 4937.3-2012
Idiomas: Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación: 2012
Organización: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Ultima versión: GB/T 4937.3-2012

Alcance: El propósito de esta parte de GB/T 4937 es verificar si el material, el diseño, la estructura, el marcado y la calidad de mano de obra de los dispositivos semiconductores cumplen con los requisitos de los documentos de adquisición aplicables. La inspección visual externa es una prueba no destructiva aplicable a todo tipo de bultos. Esta prueba se utiliza para inspección de calificación, monitoreo de procesos y aceptación de lotes.

GB/T 4937.3-2012 Historia

2012 GB/T 4937.3-2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de pruebas mecánicas y climáticas. Parte 3: Examen visual externo.

GB/T 4937.3-2012 - Все части

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