GB/T 4937.32-2023 Métodos de prueba mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores Parte 32: Inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducida externamente) (Versión en inglés)
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
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GB/T 4937.32-2023
GB/T 4937.32-2023 Historia
2023GB/T 4937.32-2023 Métodos de prueba mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores Parte 32: Inflamabilidad de dispositivos encapsulados en plástico (inducida externamente)