ASTM F1892-12

ASTM F1892-12 Documento de referencia

ASTM E1249 Práctica estándar para minimizar los errores de dosimetría en las pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio que utilizan fuentes de Co-60
ASTM E1250 Método de prueba estándar para la aplicación de cámaras de ionización para evaluar el componente gamma de baja energía de los irradiadores de cobalto-60 utilizados en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos de silicio
ASTM E170 Terminología estándar relacionada con las mediciones de radiación y la dosimetría
ASTM E666 Práctica estándar para calcular la dosis absorbida de radiación gamma o X
ASTM E668 Práctica estándar para la aplicación de sistemas de termoluminiscencia-dosimetría (TLD) para determinar la dosis absorbida en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos
ASTM F1467 Guía estándar para el uso de un probador de rayos X ([aproximadamente]fotones de 10 keV) en pruebas de efectos de radiación ionizante de dispositivos semiconductores y microcircuitos
ASTM F996 Método de prueba estándar para separar un cambio de voltaje umbral de MOSFET inducido por radiación ionizante en componentes debido a orificios atrapados en óxido y estados de interfaz utilizando las características de voltaje-corriente subumbral
ISO/ASTM 51275 Práctica para el uso de un sistema dosimétrico de película radiocrómica

2018 ASTM F1892-12(2018) Guía estándar para pruebas de efectos de radiación ionizante (dosis total) de dispositivos semiconductores
2012 ASTM F1892-12 Guía estándar para pruebas de efectos de radiación ionizante (dosis total) de dispositivos semiconductores
2006 ASTM F1892-06 Guía estándar para pruebas de efectos de radiación ionizante (dosis total) de dispositivos semiconductores
2004 ASTM F1892-04 Guía estándar para pruebas de efectos de radiación ionizante (dosis total) de dispositivos semiconductores
1998 ASTM F1892-98 Guía estándar para pruebas de efectos de radiación ionizante (dosis total) de dispositivos semiconductores