DIN EN 60749-40:2012
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica (IEC 60749-40:2011); Versión alemana EN 60749-40:2011
- Estándar No.
- DIN EN 60749-40:2012
- Fecha de publicación
- 2012
- Organización
- German Institute for Standardization
- Estado
- Remplazado por
- DIN EN 60749-40:2012-02
- Ultima versión
- DIN EN 60749-40:2012-02
- Reemplazar
- DIN IEC 60749-40:2009
DIN EN 60749-40:2012 Historia
- 2012 DIN EN 60749-40:2012-02 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica (IEC 60749-40:2011); Versión alemana EN 60749-40:2011
- 2012 DIN EN 60749-40:2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica (IEC 60749-40:2011); Versión alemana EN 60749-40:2011
- 0000 DIN IEC 60749-40:2009
