DIN EN 60749-40:2012-02 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica (IEC 60749-40:2011); Versión alemana EN 60749-40:2011
2012DIN EN 60749-40:2012-02 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica (IEC 60749-40:2011); Versión alemana EN 60749-40:2011
2012DIN EN 60749-40:2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica (IEC 60749-40:2011); Versión alemana EN 60749-40:2011