DIN EN 60749-40:2012-02
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica (IEC 60749-40:2011); Versión alemana EN 60749-40:2011

Estándar No.
DIN EN 60749-40:2012-02
Fecha de publicación
2012
Organización
German Institute for Standardization
Ultima versión
DIN EN 60749-40:2012-02

DIN EN 60749-40:2012-02 Historia

  • 2012 DIN EN 60749-40:2012-02 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica (IEC 60749-40:2011); Versión alemana EN 60749-40:2011
  • 2012 DIN EN 60749-40:2012 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 40: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando una galga extensométrica (IEC 60749-40:2011); Versión alemana EN 60749-40:2011
  • 0000 DIN IEC 60749-40:2009



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