ASTM E1162-11
Práctica estándar para informar datos del perfil de profundidad de pulverización catódica en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)

Estándar No.
ASTM E1162-11
Fecha de publicación
2011
Organización
American Society for Testing and Materials (ASTM)
Estado
Remplazado por
ASTM E1162-11(2019)
Ultima versión
ASTM E1162-11(2019)
Alcance
Esta práctica se utiliza para informar las condiciones experimentales como se especifica en la Sección 6 de la sección “Métodos&#”. o &#“Experimental” secciones de otras publicaciones (sujetas a restricciones editoriales). El informe incluiría condiciones específicas para cada conjunto de datos, en particular, si se cambia algún parámetro para diferentes conjuntos de datos de perfil de profundidad de pulverización catódica en una publicación. Por ejemplo, se utilizarían notas a pie de página de tablas o títulos de figuras para especificar diferentes condiciones. 1.1 Esta práctica cubre la información necesaria para describir e informar la instrumentación, los parámetros de las muestras, las condiciones experimentales y los procedimientos de reducción de datos. Los perfiles de profundidad de pulverización catódica SIMS se pueden obtener utilizando una amplia variedad de condiciones de excitación del haz primario, análisis de masas, adquisición de datos y técnicas de procesamiento (1-4). 1.2 Limitaciones 8212; Esta práctica se limita a los perfiles de profundidad de pulverización catódica convencionales en los que la información se promedia sobre el área analizada en el plano de la muestra. Se excluyen las técnicas de microsonda iónica o microscopio que permiten la resolución espacial lateral de iones secundarios dentro del área analizada, por ejemplo, perfiles de profundidad de imagen. 1.3 Los valores indicados en unidades SI deben considerarse estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma. 1.4 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.

ASTM E1162-11 Documento de referencia

  • ASTM E673 Terminología estándar relacionada con el análisis de superficies

ASTM E1162-11 Historia

  • 2019 ASTM E1162-11(2019) Práctica estándar para informar datos del perfil de profundidad de pulverización catódica en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
  • 2011 ASTM E1162-11 Práctica estándar para informar datos del perfil de profundidad de pulverización catódica en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
  • 2006 ASTM E1162-06 Práctica estándar para informar datos del perfil de profundidad de pulverización catódica en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
  • 1987 ASTM E1162-87(2001) Práctica estándar para informar datos del perfil de profundidad de pulverización catódica en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)
  • 1987 ASTM E1162-87(1996) Práctica estándar para informar datos del perfil de profundidad de pulverización catódica en espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS)



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