ASTM F448-11
Método de prueba para medir la fotocorriente primaria en estado estacionario

Estándar No.

ASTM F448-11

Fecha de publicación

2011

Organización

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Estado

Remplazado por

ASTM F448-18

Ultima versión

ASTM F448-18

Alcance

Diodo de unión PN8212; La fotocorriente en estado estacionario de un diodo de unión PN simple es una cantidad directamente mensurable que puede relacionarse directamente con la respuesta del dispositivo en una amplia gama de radiación ionizante. Para dispositivos más complejos, es posible que la fotocorriente de la unión no esté directamente relacionada con la respuesta del dispositivo. Diodo Zener8212; En este dispositivo, el efecto de la fotocorriente sobre el voltaje Zener suele ser más importante que la fotocorriente en sí. El dispositivo se prueba más apropiadamente cuando está sesgado en la región Zener. Al probar diodos Zener o reguladores de voltaje de precisión, se deben tomar precauciones adicionales para asegurarse de que la fotocorriente generada en el dispositivo durante las irradiaciones no cause que el voltaje a través del dispositivo cambie durante la prueba. Transistor bipolar8212;Dado que las geometrías del dispositivo dictan que la fotocorriente de la unión base-colector sea mucho mayor que la corriente de la unión base-emisor, las mediciones generalmente se realizan solo en la unión colector-base con el emisor abierto; sin embargo, a veces, para obtener datos para el análisis de circuitos asistido por computadora, también se mide la fotocorriente de la unión emisor-base. Dispositivo de efecto de campo de unión 8212; Una medición de fotocorriente adecuada requiere que la fuente esté en cortocircuito (CC) con el drenaje durante la medición de la fotocorriente del canal de puerta. En dispositivos conectados por tetrodos, las dos uniones de canal de puerta deben monitorearse por separado. Dispositivo de efecto de campo de puerta aislada 8212; En este tipo de dispositivo, la fotocorriente verdadera se encuentra entre el sustrato y las regiones del canal, la fuente y el drenaje. La técnica utilizada aquí puede medir una corriente que puede generar voltaje que encenderá el dispositivo, pero se debe a la conductividad inducida en el aislador de la puerta y, por lo tanto, no es una fotocorriente de unión.1.1 Este método de prueba cubre la medición de la tensión estable. Fotocorriente primaria estatal, Ipp, generada en dispositivos semiconductores cuando estos dispositivos se exponen a radiación ionizante. Estos procedimientos están destinados a la medición de fotocorrientes superiores a 10−9 A·s/Gy(Si o Ge), en los casos en que el tiempo de relajación del dispositivo que se está midiendo sea inferior al 25 %. del ancho de pulso de la fuente ionizante. Se ha establecido la validez de estos procedimientos para tasas de dosis ionizantes de hasta 108 Gy(Si o Ge)/s. Los procedimientos pueden utilizarse para mediciones a tasas de dosis de hasta 1010 Gy(Si o Ge)/s; sin embargo, se debe tener especial cuidado. Por encima de 108 Gy/s, la respuesta del paquete puede dominar la respuesta del dispositivo para cualquier dispositivo. También se requieren precauciones adicionales al medir fotocorrientes de 10−9 A·s/Gy(Si o Ge) o inferiores. 1.2 Los procedimientos de configuración, calibración y evaluación del circuito de prueba también se incluyen en este método de prueba. 1.3 Debido a la variabilidad entre los tipos de dispositivos y en los requisitos de diferentes aplicaciones, el rango de tasas de dosis sobre el cual se realizará cualquier prueba específica no se proporciona en este método de prueba, sino que debe especificarse por separado. 1.4 Los valores indicados en unidades SI deben considerarse estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma. 1.5 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer apro......

ASTM F448-11 Documento de referencia

• ASTM E668 Práctica estándar para la aplicación de sistemas de termoluminiscencia-dosimetría (TLD) para determinar la dosis absorbida en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos
• ASTM F526 Método de prueba estándar para medir la dosis para uso en pruebas de efectos de radiación pulsada de acelerador lineal

ASTM F448-11 Historia

• 2018 ASTM F448-18 Método de prueba estándar para medir la fotocorriente primaria en estado estacionario
• 2011 ASTM F448-11 Método de prueba para medir la fotocorriente primaria en estado estacionario
• 1999 ASTM F448-99(2005) Método de prueba para medir la fotocorriente primaria en estado estacionario
• 1999 ASTM F448-99 Método de prueba para medir la fotocorriente primaria en estado estacionario