1.1 Este método de prueba cubre la medición de la fotocorriente primaria en estado estacionario, Ipp, generada en dispositivos semiconductores cuando estos dispositivos se exponen a radiación ionizante. Estos procedimientos están destinados a la medición de fotocorrientes superiores a 10-9 As/Gy (Si o Ge), en los casos en los que el tiempo de relajación del dispositivo que se está midiendo sea inferior al 25% del ancho de pulso de la fuente ionizante. Se ha establecido la validez de estos procedimientos para tasas de dosis ionizantes de hasta 108 Gy(Si o Ge)/s. Los procedimientos pueden utilizarse para mediciones a tasas de dosis de hasta 1010 Gy(Si o Ge)/s; sin embargo, se debe tener especial cuidado. Por encima de 108 Gy/s, la respuesta del paquete puede dominar la respuesta del dispositivo para tecnologías como el semiconductor complementario de óxido metálico (CMOS) y el silicio sobre zafiro (SOS). También se requieren precauciones adicionales al medir fotocorrientes de 10-9 As/Gy (Si o Ge) o inferiores. 1.2 Los procedimientos de configuración, calibración y evaluación del circuito de prueba también se incluyen en este método de prueba. 1.3 Debido a la variabilidad entre los tipos de dispositivos y en los requisitos de diferentes aplicaciones, el rango de tasas de dosis sobre el cual se realizará cualquier prueba específica no se proporciona en este método de prueba, sino que debe especificarse por separado. 1.4 Los valores indicados en el Sistema Internacional de Unidades (SI) deben considerarse como estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma. 1.5 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.
ASTM F448-99 Historia
2018ASTM F448-18 Método de prueba estándar para medir la fotocorriente primaria en estado estacionario
2011ASTM F448-11 Método de prueba para medir la fotocorriente primaria en estado estacionario
1999ASTM F448-99(2005) Método de prueba para medir la fotocorriente primaria en estado estacionario
1999ASTM F448-99 Método de prueba para medir la fotocorriente primaria en estado estacionario