IEC 60749-23:2011
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.

Estándar No.

IEC 60749-23:2011

Fecha de publicación

2011

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Remplazado por

IEC 60749-23:2004/AMD1:2011

Ultima versión

IEC 60749-23:2004/AMD1:2011

IEC 60749-23:2011 Historia

• 2011 IEC 60749-23:2004/AMD1:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.
• 2011 IEC 60749-23:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.
• 2004 IEC 60749-23:2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.