JIS K 0167:2011
Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos

Estándar No.

JIS K 0167:2011

Fecha de publicación

2011

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Ultima versión

JIS K 0167:2011

JIS K 0167:2011 Documento de referencia

• ISO 21270 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
• JIS K 0147 Análisis químico de superficies - Vocabulario

JIS K 0167:2011 Historia

• 2011 JIS K 0167:2011 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos