BS EN 15991:2011
Ensayos de materiales cerámicos y básicos. Determinación directa de fracciones de masa de impurezas en polvos y gránulos de carburo de silicio mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente (ICP OES) con vaporización electrotérmica (ETV)

Estándar No.

BS EN 15991:2011

Fecha de publicación

2011

Organización

British Standards Institution (BSI)

Estado

ser reemplazado 2015-11

Remplazado por

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Ultima versión

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BS EN 15991:2011 Historia

• 2015 BS EN 15991:2015 Ensayos de materiales cerámicos y básicos. Determinación directa de fracciones de masa de impurezas en polvos y gránulos de carburo de silicio mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente (ICP OES) con vaporización electrotérmica (ETV)
• 2011 BS EN 15991:2011 Ensayos de materiales cerámicos y básicos. Determinación directa de fracciones de masa de impurezas en polvos y gránulos de carburo de silicio mediante espectrometría de emisión óptica de plasma acoplado inductivamente (ICP OES) con vaporización electrotérmica (ETV)