ISO/TS 25138:2010 Análisis químico de superficies: análisis de películas de óxidos metálicos mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.
Esta Especificación Técnica describe un método espectrométrico de emisión óptica de descarga luminosa para la determinación del espesor, la masa por unidad de área y la composición química de películas de óxido metálico. Este método es aplicable a películas de óxido de 1 nm a 10 000 nm de espesor sobre metales. Los elementos metálicos del óxido pueden incluir uno o más de Fe, Cr, Ni, Cu, Ti, Si, Mo, Zn, Mg, Mn y Al. Otros elementos que pueden determinarse mediante el método son O, C, N, H, P y S.
ISO/TS 25138:2010 Documento de referencia
ISO 14284 Acero y hierro. Toma de muestras y preparación de muestras para la determinación de la composición química.*， 2022-10-25 Actualizar
ISO 14707 Análisis químico de superficies - Espectrometría de emisión óptica de descarga luminiscente (GD-OES) - Introducción al uso*， 2021-02-28 Actualizar
ISO 16962:2005 Análisis químico de superficies - Análisis de recubrimientos metálicos a base de zinc y/o aluminio mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa
ISO/TS 25138:2010 Historia
2019ISO/TS 25138:2019 Análisis químico de superficies. Análisis de películas de óxido metálico mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.
2010ISO/TS 25138:2010 Análisis químico de superficies: análisis de películas de óxidos metálicos mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa.