GB/T 25184-2010 (Versión en inglés)

Estándar No.: GB/T 25184-2010
Idiomas: Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación: 2010
Organización: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Ultima versión: GB/T 25184-2010

Alcance: Esta norma especifica el método de verificación para el espectrómetro de fotoelectrones de rayos X. Esta norma se aplica a la verificación de espectrómetros fotoelectrónicos de rayos X que utilizan rayos X no monocromáticos de Al o Mg o rayos X monocromáticos de Al y están equipados con pistolas de iones para limpieza por pulverización catódica.

GB/T 25184-2010 Documento de referencia

GB/T 19500-2004 Reglas generales para el método de análisis espectroscópico de fotoelectrones de rayos X.
GB/T 20175-2006 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad de sputter. Optimización utilizando sistemas estratificados como materiales de referencia.
GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
GB/T 22461-2008 Análisis químico de superficies. Vocabulario
GB/T 22571-2008 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
GB/T 25185-2010 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Informes de métodos utilizados para el control y corrección de carga.
ISO 18116 Análisis químico de superficies: directrices para la preparación y montaje de muestras para análisis.
ISO 18118:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Guía para el uso de factores de sensibilidad relativa determinados experimentalmente para el análisis cuantitativo de materiales homogéneos
ISO 18516:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Determinación de la resolución lateral
ISO 24237 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Escala de repetibilidad y constancia de intensidad

2010 GB/T 25184-2010 Método de verificación para espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.