ISO 17331:2004/Amd 1:2010
Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF); Enmienda 1
- Estándar No.
- ISO 17331:2004/Amd 1:2010
- Fecha de publicación
- 2010
- Organización
- International Organization for Standardization (ISO)
- Ultima versión
- ISO 17331:2004/Amd 1:2010
ISO 17331:2004/Amd 1:2010 Historia
- 2010 ISO 17331:2004/Amd 1:2010 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF); Enmienda 1
- 2004 ISO 17331:2004 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF).
