IEEE 1149.7-2009
Puerto de acceso de prueba con funcionalidad mejorada y pines reducidos y arquitectura de escaneo de límites

Estándar No.

IEEE 1149.7-2009

Fecha de publicación

2009

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Estado

Remplazado por

IEEE 1149.7-2022

Ultima versión

IEEE 1149.7-2022

IEEE 1149.7-2009 Historia

• 1970 IEEE 1149.7-2022 Estándar IEEE para arquitectura de escaneo de límites y puerto de acceso de prueba de funcionalidad mejorada y pin reducido
• 2009 IEEE 1149.7-2009 Puerto de acceso de prueba con funcionalidad mejorada y pines reducidos y arquitectura de escaneo de límites