IEEE 1149.7-2022
Estándar IEEE para arquitectura de escaneo de límites y puerto de acceso de prueba de funcionalidad mejorada y pin reducido
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IEEE 1149.7-2022
Estándar No.
IEEE 1149.7-2022
Organización
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Ultima versión
IEEE 1149.7-2022
IEEE 1149.7-2022 Historia
1970
IEEE 1149.7-2022
Estándar IEEE para arquitectura de escaneo de límites y puerto de acceso de prueba de funcionalidad mejorada y pin reducido
2009
IEEE 1149.7-2009
Puerto de acceso de prueba con funcionalidad mejorada y pines reducidos y arquitectura de escaneo de límites
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