JIS K 0190:2010
Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda

Estándar No.

JIS K 0190:2010

Fecha de publicación

2010

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Ultima versión

JIS K 0190:2010

JIS K 0190:2010 Documento de referencia

• ISO 17470:2004 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda

JIS K 0190:2010 Historia

• 2010 JIS K 0190:2010 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda