GB/T 11072-2009
Policristal de antimonuro de indio, cristales individuales y rodajas cortadas (Versión en inglés)
- Estándar No.
- GB/T 11072-2009
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 2009
- Organización
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Ultima versión
- GB/T 11072-2009
- Reemplazar
- GB/T 11072-1989
- Alcance
- Esta norma especifica la clasificación del producto, requisitos técnicos, métodos de prueba, etc. Es adecuada para policristales de antimonuro de indio preparados mediante el método de fusión por zonas y policristales de antimonuro de indio, monocristales y láminas cortadas preparadas mediante el método Czochralski para fabricar detectores de infrarrojos y elementos sensibles magnéticos.
GB/T 11072-2009 Documento de referencia
- GB/T 11297.1 Método de prueba para la distorsión del frente de onda de varillas láser.*， 2017-05-31 Actualizar
- GB/T 11297.10 Método de prueba para la temperatura curie de materiales piroeléctricos.*， 2015-12-31 Actualizar
- GB/T 11297.11 Método de prueba para la constante dieléctrica de materiales piroeléctricos.*， 2015-12-31 Actualizar
- GB/T 11297.12 Método de prueba para la relación de extinción del cristal óptico.*， 2012-12-31 Actualizar
- GB/T 11297.2 Método de prueba para el coeficiente de dispersión en dirección lateral de varillas láser.
- GB/T 11297.3 Método de prueba para la relación de extinción de varillas láser Nd:YAG
- GB/T 11297.4 Método de prueba para el umbral de láser de pulso normal y la eficiencia de la pendiente de las varillas láser Nd:YAG
- GB/T 11297.5 Método de prueba para umbral de láser continuo, eficiencia de pendiente y potencia de salida de varillas láser Nd:YAG
- GB/T 11297.6 Método estándar para mostrar y medir los hoyos de grabado de dislocación en un monocristal de antimonuro de indio
- GB/T 11297.7 Método de prueba de resistividad y coeficiente Hall en monocristales de InSb
- GB/T 11297.8 Método de prueba para el coeficiente piroeléctrico de materiales piroeléctricos.*， 2015-12-31 Actualizar
- GB/T 11297.9 Método de prueba para la tangente dieléctrica del ángulo de pérdida de materiales piroeléctricos.*， 2015-12-31 Actualizar
- GB/T 4326-2006 Medición de monocristales semiconductores extrínsecos de movilidad Hall y coeficiente Hall
GB/T 11072-2009 Historia
- 2009 GB/T 11072-2009 Policristal de antimonuro de indio, cristales individuales y rodajas cortadas
- 1989 GB/T 11072-1989 Policristal de antimonuro de indio, monocristales y rodajas cortadas
