DIN 50455-1:2009
Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Métodos para caracterizar fotoprotectores. Parte 1: Determinación del espesor del recubrimiento con métodos ópticos.
- Estándar No.
- DIN 50455-1:2009
- Fecha de publicación
- 2009
- Organización
- German Institute for Standardization
- Estado
- Remplazado por
- DIN 50455-1:2009-10
- Ultima versión
- DIN 50455-1:2009-10
- Reemplazar
- DIN 50455-1:2008 DIN 50455-1:1991
DIN 50455-1:2009 Documento de referencia
- EN ISO 14644-1 Salas blancas y entornos controlados asociados. Parte 1: Clasificación de la limpieza del aire por concentración de partículas (ISO 14644-1:2015)*， 2015-12-01 Actualizar
DIN 50455-1:2009 Historia
- 2009 DIN 50455-1:2009-10 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Métodos para caracterizar fotoprotectores. Parte 1: Determinación del espesor del recubrimiento con métodos ópticos.
- 2009 DIN 50455-1:2009 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Métodos para caracterizar fotoprotectores. Parte 1: Determinación del espesor del recubrimiento con métodos ópticos.
- 1991 DIN 50455-1:1991 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; métodos para caracterizar fotorresistentes; determinación del espesor del recubrimiento con métodos ópticos
