DIN 50455-1:1991
Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; métodos para caracterizar fotorresistentes; determinación del espesor del recubrimiento con métodos ópticos

Estándar No.

DIN 50455-1:1991

Fecha de publicación

1991

Organización

German Institute for Standardization

Estado

 2009-10

Remplazado por

DIN 50455-1:2009

Ultima versión

DIN 50455-1:2009-10

Alcance

La norma define un método que permite la caracterización de fotoprotectores determinando el espesor del recubrimiento.

DIN 50455-1:1991 Historia

• 2009 DIN 50455-1:2009-10 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Métodos para caracterizar fotoprotectores. Parte 1: Determinación del espesor del recubrimiento con métodos ópticos.
• 2009 DIN 50455-1:2009 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores. Métodos para caracterizar fotoprotectores. Parte 1: Determinación del espesor del recubrimiento con métodos ópticos.
• 1991 DIN 50455-1:1991 Pruebas de materiales para tecnología de semiconductores; métodos para caracterizar fotorresistentes; determinación del espesor del recubrimiento con métodos ópticos