IEC 60749-24:2004
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 24: Resistencia a la humedad acelerada. HAST imparcial (Edición 1.0; reemplaza IEC PAS 62336:2002).

Estándar No.

IEC 60749-24:2004

Fecha de publicación

2004

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Estado

Remplazado por

IEC 60749-24:2005

Ultima versión

IEC 60749-24:2005

IEC 60749-24:2004 Historia

• 2005 IEC 60749-24:2005 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 24: Resistencia acelerada a la humedad. HAST imparcial.
• 2004 IEC 60749-24:2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 24: Resistencia a la humedad acelerada. HAST imparcial (Edición 1.0; reemplaza IEC PAS 62336:2002).