IEC 60749-24:2005 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 24: Resistencia acelerada a la humedad. HAST imparcial.
La prueba de esfuerzo imparcial altamente acelerada se realiza con el fin de evaluar la confiabilidad de dispositivos de estado sólido empaquetados no herméticamente en ambientes húmedos. Emplea temperatura y humedad en condiciones sin condensación para acelerar
IEC 60749-24:2005 Historia
2005IEC 60749-24:2005 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 24: Resistencia acelerada a la humedad. HAST imparcial.
2004IEC 60749-24:2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 24: Resistencia a la humedad acelerada. HAST imparcial (Edición 1.0; reemplaza IEC PAS 62336:2002).