IEC 60749-33:2004
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 33: Resistencia a la humedad acelerada. Autoclave imparcial (Edición 1.0; reemplaza IEC PAS 62172:2000).
- Estándar No.
- IEC 60749-33:2004
- Fecha de publicación
- 2004
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Estado
- Remplazado por
- IEC 60749-33:2005
- Ultima versión
- IEC 60749-33:2005
- Alcance
- Alcance y objeto La prueba de autoclave imparcial se realiza para evaluar la integridad de la resistencia a la humedad de dispositivos de estado sólido empaquetados no herméticos que utilizan ambientes de condensación de humedad o vapor saturado de humedad. Es una prueba altamente acelerada que emplea condiciones de presión @ humedad y temperatura en condiciones de condensación para acelerar la penetración de la humedad a través del material protector externo (encapsulante o sello) o a lo largo de la interfaz entre el material protector externo y los conductores metálicos que lo atraviesan. Esta prueba se utiliza para identificar mecanismos de falla internos del paquete y es destructiva.
IEC 60749-33:2004 Historia
- 2005 IEC 60749-33:2005 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 33: Resistencia acelerada a la humedad. Autoclave imparcial.
- 2004 IEC 60749-33:2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 33: Resistencia a la humedad acelerada. Autoclave imparcial (Edición 1.0; reemplaza IEC PAS 62172:2000).
